考试
2022-12-22 01:36:14

检验近表面缺陷时,最好采用 联合双晶探头是因为该探头晶片前面

题目描述

检验近表面缺陷时,最好采用 联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。                                                      (    )

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