考试
1970-01-01 08:00:00

在进行纳米级测量两个导体的表面形貌时,常采用的测量仪器为()

题目描述

在进行纳米级测量两个导体的表面形貌时,常采用的测量仪器为()。
A、电镜
B、扫描隧道显微镜
C、图像处理技术
D、激光扫描
正确答案:B

答案解析

B

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