考试
2022-12-25 15:46:07

与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是:(    )

题目描述

与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是:(    )

A、单斜探头法

B、单直探头法

C、双斜探头前后串列法

D、分割式双直探头法

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答案解析

C无

C

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