考试
2022-12-24 05:45:16

晶片直探头接触法探伤中,与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地

题目描述

晶片直探头接触法探伤中,与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为()。

A、近场干扰

B、材质衰减

C、盲区

D、选择范围

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答案解析

C

C

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