1108智慧树知到《材料分析方法》章节测试答案8384

题目描述

智慧树知到《材料分析方法》章节测试答案,智慧树 知到 材料分析方法的答案如下：
智慧树知到《材料分析方法》章节测试答案

绪论

1、 材料研究方法分为（）

A:组织形貌分析

B:物相分析

C:成分价键分析

D:分子结构分析

正确答案： 组织形貌分析,物相分析,成分价键分析,分子结构分析

2、 材料科学的主要研究内容包括（）

A:材料的成分结构

B:材料的制备与加工

C:材料的性能

D:材料应用

正确答案： 材料的成分结构,材料的制备与加工,材料的性能

3、 下列哪些内容不属于材料表面与界面分析（）

A:晶界组成、厚度

B:晶粒大小、形态

C:气体的吸附

D:表面结构

正确答案： 晶粒大小、形态

4、 下列哪些内容属于材料微区分析（）

A:晶格畸变

B:位错

C:晶粒取向

D:裂纹大小

正确答案： 晶格畸变,位错,晶粒取向,裂纹大小

5、 下列哪些内容不属于材料成分结构分析（）

A:物相组成

B:晶界组成、厚度

C:杂质含量

D:晶粒大小、形态

正确答案： 晶界组成、厚度,晶粒大小、形态

第一章

1、 扫描电子显微镜的分辨率已经达到了（）

A:0.1 nm

B:1.0 nm

C:10 nm

D:100 nm

正确答案： 1.0 nm

2、

利用量子隧穿效应进行分析的仪器是

A:

原子力显微镜

B:

扫描隧道显微镜

C:

扫描探针显微镜

D:

扫描电子显微镜

正确答案：

扫描隧道显微镜

3、

能够对样品形貌和物相结构进行分析的是透射电子显微镜。

A:对

B:错

正确答案： 对

4、 扫描隧道显微镜的分辨率可以到达原子尺度级别。

A:对

B:错

正确答案： 对

5、 图像的衬度是（）

A:任意两点存在的明暗程度差异

B:任意两点探测到的光强差异

C:任意两点探测到的信号强度差异

D:任意两点探测到的电子信号强度差异

正确答案： 任意两点存在的明暗程度差异,任意两点探测到的信号强度差异

6、 对材料进行组织形貌分析包含哪些内容（）

A:材料的外观形貌

B:晶粒的大小

C:材料的表面、界面结构信息

D:位错、点缺陷

正确答案： 材料的外观形貌,晶粒的大小,材料的表面、界面结构信息,位错、点缺陷

7、 光学显微镜的最高分辨率为（）

A:1 μm

B:0.5 μm

C:0.2 μm

D:0.1 μm

正确答案： 0.2 μm

8、 下列说法错误的是（）

A:可见光波长为450~750 nm，比可见光波长短的光源有紫外线、X射线和γ射线

B:可供照明的紫外线波长为200~250 nm，可以作为显微镜的照明源[1] [2] [3] [4] [5] [6] [7] [8] [9] [10] [11] [12]  下一页