考试
2022-12-25 14:57:29

射线探伤时,使用像质计的主要目的是()。

题目描述

射线探伤时,使用像质计的主要目的是()。

A、测量缺陷的大小

B、测量缺陷的位置

C、测量缺陷的几何不清楚度

D、确定底片的彩像质量

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答案解析

B

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