LKJ关键存储芯片EPROM类型的抽样检测试验时，反复擦除、

题目描述

LKJ关键存储芯片EPROM类型的抽样检测试验时，反复擦除、写入次数不应低于（）次，对于RAM、Flash、DOC等可改写芯片，反复擦除、写入次数不应低于（）次，按键面膜按键次数应不低于（）次.（）

A、 A、100，10000，50000

B、 B、50，100000，200000

C、 C、20，200000，100000

D、 D、10，100000，100000

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