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2022-12-25 15:09:51晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地
题目描述
晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出、这是因为: ( )
A、近场干扰
B、材质衰减
C、盲区
D、折射
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答案解析
C无
C
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