试述采用温度测量法探测电气元件故障的依据及所采用的仪器。

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试述采用温度测量法探测电气元件故障的依据及所采用的仪器。

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[答案] 电气元件接触不良会使接触电阻增加。当有电流通过时,会因发热量增大而形成局部过热。与此相反,整流管、晶闸管等器件损伤后,将不会发热而出现冷点。通过局部过热及所出现的冷点的检测,便可以探测出电器元件故障。电器元件故障通常采用红外线热像仪进行探测。无

[答案] 电气元件接触不良会使接触电阻增加。当有电流通过时,会因发热量增大而形成局部过热。与此相反,整流管、晶闸管等器件损伤后,将不会发热而出现冷点。通过局部过热及所出现的冷点的检测,便可以探测出电器元件故障。电器元件故障通常采用红外线热像仪进行探测。

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